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FORCE 原力精密儀器

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首頁 原力產品 量測服務
 

 
 
AFM表面形貌代掃：

•量測範圍：10um×10um、2um×2um
•量測條件：大氣中乾燥樣品
•收費標準：依各式品量測時數與困難度個別報價，請來電洽詢
•代測方式：來電或來信接洽後，將樣品註明欲量測位置後寄至本公司

 
膜厚量測服務：

•量測範圍：5um以內之薄膜斷差
•收費標準：單個樣品掃描三次之結果為1500元
     
   

 

 
 
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