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AFM表面形貌代掃:

•量測範圍:10um×10um、2um×2um
•量測條件:大氣中乾燥樣品
•收費標準:依各式品量測時數與困難度個別報價,請來電洽詢
•代測方式:來電或來信接洽後,將樣品註明欲量測位置後寄至本公司

 
膜厚量測服務:

•量測範圍:5um以內之薄膜斷差
•收費標準:單個樣品掃描三次之結果為1500元

     
   

 

 

 
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