這個頁面上的內容需要較新版本的 Adobe Flash Player。

取得 Adobe Flash Player


首頁
 l  聯絡我們 l  繁體中文   l   简体中文   l   English
Loading
 
 
PSS用AFM
 

檢測sapphire拋光片粗糙度、高亮度LED圖案化藍寶石基板PSS結構與磊晶wafer專用,最符合產線使用之AFM

 

           
 
 

 

 Sample stage  For 2-inch/4-inch wafer
 Scan range  15μm/ 15 μm/ 15 μm
 Imaging throughput  ≤ 80 seconds condition: (512 pixel)2, (10 μm)2
 3σ Repeatability (400 measurements)  height: ≤ 5 nm
 Probe compatibility  all major manufacturers, including anti-wear
 and high-aspect-ratio probes
 Auto PSS measurement  Yes

 

 
首頁   關於原力   原力產品   最新消息   技術支援   聯絡我們