Notice: Use of undefined constant ADODB_CACHE_DIR - assumed 'ADODB_CACHE_DIR' in /home/force888/public_html/include/db.php on line 2
FORCE 原力精密儀器

這個頁面上的內容需要較新版本的 Adobe Flash Player。

取得 Adobe Flash Player
首頁　l　 聯絡我們　l　 繁體中文   l   简体中文   l   English
Loading
 
首頁 原力產品 原子力顯微鏡系列 PSS用AFM
 
PSS用AFM
 

檢測sapphire拋光片粗糙度、高亮度LED圖案化藍寶石基板PSS結構與磊晶wafer專用，最符合產線使用之AFM

 
           
 
 
Functions  
Sample stage For 2-inch/4-inch wafer
Scan range 15μm/ 15 μm/ 15 μm
Imaging throughput ≤ 80 seconds  condition：(512 pixel)2, (10 μm)2
3σ Repeatability (400 measurements) height: ≤ 5 nm
Probe compatibility all major manufacturers, including anti-wear
and high-aspect-ratio probes
Auto PSS measurement Yes

 
 
首頁　　 關於原力　　 原力產品　　 最新消息　　 技術支援　　 聯絡我們
Copyright © Force Precision Instrument All rights reserved