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FORCE 原力精密儀器

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S8 AFM：

採用獨特掃針式探針，免對光點，換針容易，樣品尺寸易調整 。
實際案例：精材科技－晶圓背面粗糙度量測



 
整合式NSOM：

scanner整合Olympus IX71 倒立式光學顯微鏡，可進行穿透與接收之實驗。
實際案例：中研院物理所

 
開放式NSOM：

採用開放式架構，模組下方可自行架設光路 。
實際案例：清大化學

 

 

 

 
 
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