◆ 抽換式探針機制,換針方便:探針座抽換輕巧方便,取放不會損傷AFM模組
◆ 順序性引導介面,操作簡單
◆ 含光學顯微系統可找到下針位置:800X(光學放大倍率20倍)
紅框標示字母U、G各為1μm大小,可輕鬆找到字母,定位樣品。
◆ 可選配MFM、C-AFM、EFM、PFM、SThM等功能
磁力顯微鏡MFM
Magnetic Force Microscopy(15 X 15μm) |
導電原子力顯微鏡CAFM
Conductive Atomic Force Microscopy(15 X 15μm) |
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靜電力顯微鏡EFM
Electric Force Microscopy(15 X 15μm) |
壓電力顯微鏡PFM
PiezoresponseForce Microscopy(2 X 2μm) |
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掃描熱顯微鏡Scanning Thermal Microscopy
SThM(15 X 15μm) |
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