專業且全面之PSS缺陷檢測設備
◆ 採用Area scan 方式,解析度較高 ◆ 適用於PW, PR, ADI, AEI不同片子之缺陷檢測 ◆ 自動化取放片與sorting分類 ◆ 最多卡匣式設計 ◆ 可自動對焦、自動補償光源 ◆ 可自動判別最多缺陷種類 ◆ 可讀取雷射刻號鍵入資料庫 ◆ 景深淺,檢測結果不易受晶背影響(PR尤其適用)