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研究用SPM
 

具備接觸式與輕敲式兩種掃描模式,操作靈活容易,高解析度與實用性,適合尖端奈米科技之應用與研究

 

                      
 
 

◆  抽換式探針機制,換針方便:探針座抽換輕巧方便,取放不會損傷AFM模組

     

◆  順序性引導介面,操作簡單

   

◆  含光學顯微系統可找到下針位置:800X(光學放大倍率20倍)

      紅框標示字母U、G各為1μm大小,可輕鬆找到字母,定位樣品。

     

◆  可選配MFM、C-AFM、EFM、PFM、SThM等功能
  磁力顯微鏡MFM
  Magnetic Force Microscopy(15 X 15μm)
  導電原子力顯微鏡CAFM
  Conductive Atomic Force Microscopy(15 X 15μm)
  靜電力顯微鏡EFM
  Electric Force Microscopy(15 X 15μm)
  壓電力顯微鏡PFM
  PiezoresponseForce Microscopy(2 X 2μm)
  掃描熱顯微鏡Scanning Thermal Microscopy
  SThM(15 X 15μm)
  
 

 

 
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